专利名称：一种数模混合集成电路的测试模块专利类型：发明专利
发明人：樊旭,喻贤坤,姜爽,孔瀛,彭斌,王莉,李健,刘松林,穆辛,
王磊,袁超
申请号：CN201611214526.5申请日：20161223公开号：CN106802388A公开日：20170606
摘要：一种数模混合集成电路的测试模块，属于半导体数模混合集成电路可测性设计领域。在不影响电路基本功能的前提下，在管脚数目有限的情况下，通过增加模式控制单元、输入管脚复用单元、输出管脚复用单元、DAC数据旁路单元，解决现有数模混合集成电路测试设计难度大，测试不够全面的问题，本发明能够以较低的设计复杂度和设计时间代价，提高数模混合集成电路的测试设计的灵活性，实现快递定位故障，保证芯片测试的有效性和完备性。
申请人：北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
地址：100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号
国籍：CN
代理机构：中国航天科技专利中心
代理人：臧春喜
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