专利名称：自动测试设备和升级自动测试设备的集成电路测试
界面
专利类型：实用新型专利发明人：陈俊吉,赖鸿尉,李宗润申请号：CN201420393185.2申请日：20140716公开号：CN204044309U公开日：20141224
摘要：本实用新型公开了一种自动测试设备和升级一自动测试设备的集成电路测试界面，所述集成电路测试界面用以测试一待测组件，所述集成电路测试界面包含至少一引脚，用来接收或传送至少一测试信号至该自动测试设备的一测试机；复数个数字化仪，耦接于该至少一引脚，以产生一数字信号；一处理器，耦接于该复数个数字化仪，用来进行该数字信号的处理；以及一连接件，用来连接该处理器与一计算机设备，以将该处理器的一输出信号传送至该计算机设备；其中，该集成电路测试界面设置于该自动测试设备的该测试机与一针测机之间。因此，本实用新型可用于自动测试设备中，提供一种低成本的集成电路测试界面，以提升该自动测试设备的测试效能，进而降低测试成本。
申请人：矽创电子股份有限公司
地址：中国台湾新竹县
国籍：CN
代理机构：深圳新创友知识产权代理有限公司
代理人：江耀纯
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