专利名称：PCB板内层偏位的测试方法专利类型：发明专利
发明人：谢维鑫,黄光明,邓智河申请号：CN201610519174.8申请日：20160701公开号：CN106197250A公开日：20161207
摘要：本发明公开了一种PCB板内层偏位的测试方法，包括如下步骤：提供一多层PCB板，在多层PCB板上设置至少一个检测区域；其中，检测区域包括接地孔、偏层检测孔组和偏距测试孔组；提供一检测元件，该检测元件包括第一触针和第二触针，将第一触针插入接地孔固定，同时将第二触针插入偏层检测孔组并观察检测元件显示数值；当第二测试针插入的当前偏层检测孔和当前偏距测试孔使得检测元件均显示开路时，则判定对应板层不存在偏位，测试结束。可以非常方便快捷的测得PCB板内发生偏位的具体板层和偏移数值大小，由此对PCB板是否合格提供科学的评判依据，且上述PCB板内层偏位的测试方法操作简单，测试结果的准确度高。
申请人：广州兴森快捷电路科技有限公司,深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司,广州市兴森电子有限公司
地址：510663 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城光谱中路33号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：周修文
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容