SOP可靠性测试规范E

Revision Summary（每次创建或修改时使用空白表格在第一行写入本次变更内容） 版本号: A 文件生成时间: 2011-11-9 变更描述: 新增 1、 名为“可靠性测试规范” 2、 于新增“物料认可SOP”，调整相应内容以保持一致； 3、 整LTOL条件为Power ON/OFF； 4、 SL、TS后增加热测、ΔVF等检视手段； 5、 于非COB产品，材料焊在FR4板上，再进行TS、HTS、TH等试验； 6、 试申请由email方式，改为以《可靠性测试申请单》书面方面； 1、 .3中新增可靠性试验失败后的应对措施。 1、实验项目WHTOL取消ON/OFF，时间由500H1000H； 2、光通量失效判定标准 0.70.9； 3、增加色漂判定标准Du’v’ > 0.004； 1、6.2实验项目按照不同客户、不同项目进行区分说明； 2、6.3增加新产品，衍生产品的定义及其可靠性测试要求； 变更原因: 新增 变更人: 钟鸣 B 2012-11-9 变更 袁友行 C 2013-7-4 变更 袁友行 D 2013.12.25 变更 袁友行 E 2015.3.30 变更 袁友行 变更人 / 核准人员 变更人: 核准人:

会签： 会签部门： 签字、日期 会签核准部门： 签字、日期 1.0 目的：对可靠性测试各流程进行有效管理，确保可靠性测试结果准确；通过对公司新产

品、新物料、常规产品进行可靠性测试，确保公司产品的可靠性符合客户要求；

2.0 范围：适用于公司所有产品（新产品、新物料、常规产品等）的各项可靠性测试项目；

3.0 职责：

可靠性工程师：1. 制定可靠性测试规范，配备相应的软硬件以实现各实验项目； 2.按照《测试申请单》进行相应可靠性测试；

3.采取措施，确保老化过程严格执行实验要求；

4.当公司内部缺乏某些实验手段时，选择合格的第三方实验室执行试验；

5.总结《可靠性测试报告》；

物料工程师：制定物料评估、认证计划，并负责提交试样阶段的可靠性试验申请单； 研发工程师： 制定新产品评估、认证计划，并负责提交试样阶段的可靠性试验申请单； 品质工程师：制定常规产品可靠性评估计划，并负责提交常规产品的可靠性试验申请；

4.0 安全：无

5.0 定义：

可靠性：一个系统在规定条件下，在规定时期内，能成功实现其预定功能的可能性。 新产品：新增产品，即新开发产品；

衍生产品：在成熟产品的基础上，根据客户需求，或者自主开发，不变更支架，只是变更芯片，荧光粉等对整体制程不产生影响的产品。

6.0 流程：

6.1 一般流程与要求

6.1.1 研发工程师、物料工程师、品质工程师以书面形式向实验室提交《测试申

请单》，提交相应样品，在申请单中详细填写实验样品的各项信息，及委托项目；

6.2 实验项目

6.2.1 常规SMD产品的实验项目及判定标准： No. 测试项目 Test item 高温老化HTOL 高温老化HTOL2 高温高湿老化WHTOL 潮气敏感度MSL 温度冲击TS 参考标准 Reference standard JESD22-A108 JESD22-A108 JEITA ED-4701/102 IPC/JEDEC J-STD-020 JESD22-A106B 测试条件 Test condition Ts=85℃, Typical IF Ts=105℃, Typical IF 测试时间 Test duration 1000h 1000h 判定标准 Criteria delta flux≥90% delta x/y≤0.005 供参考 delta flux≥70% delta x/y≤0.03 无死灯、缺亮 样品数Unit Failed/Tested 0/10 0/10 0/10 0/20 sequence from MSL 1 2 3 4 5 Ta=85℃, 85%RH, 500h Typical IF 85℃/85%环境下吸湿12h以上贴片三遍回流焊 -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less 100cycle than 20sec transfer time Ta=100℃ 1000h 无死灯、缺亮 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 供参考 6 高温存储HTS 高温高湿存储TH 静电放电人体模式ESD HBM 硫渗透试验SP 热阻测试TR JEITA ED-4701/201 JEITA ED-4701/103 0/10 7 Ta=60℃, 90%RH 1000h 0/10 8 9 10 JESD22-A114 ESD HBM mode 2KV@85% for normal LED, 8KV@100% for LED with zener 将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 4h,8h,12h,…… JESD51-14 0/20 供参考 供参考 0/10 0/2

6.2.2 常规COB产品的实验项目及判定标准： No. 测试项目 Test item 高温老化HTOL 高温老化HTOL2 高温高湿老化WHTOL 温度冲击TS 参考标准 Reference standard JESD22-A108 JESD22-A108 JEITA ED-4701/102 JESD22-A106B 测试条件 Test condition Ts=85℃, Typical IF Ts=105℃, Typical IF Ta=85℃, 85%RH, Typical IF -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less than 20sec transfer time Ta=100℃ 测试时间 Test duration 1000h 1000h 1000h 判定标准 Criteria delta flux≥95% delta x/y≤0.005 供参考 delta flux≥90% delta x/y≤0.03 无死灯、缺亮 delta flux≥95% delta x/y≤0.005 delta flux≥95% delta x/y≤0.005 供参考 样品数Unit Failed/Tested 0/3 0/3 0/3 1 2 3 4 100cycle 0/5 5 高温存储HTS 高温高湿存储TH 静电放电人体模式ESD HBM 硫渗透试验SP 热阻测试TR JEITA ED-4701/201 JEITA ED-4701/103 1000h 0/3 6 Ta=60℃, 90%RH 1000h 0/3 7 8 9 JESD22-A114 ESD HBM mode 2KV@85% for normal LED, 8KV@100% for LED with zener 将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 8h,24h,48h…… JESD51-14 0/5 供参考 供参考 0/3 0/2 6.2.3 TCL BLU产品的实验项目及判定标准： No. 1 2 3 实验名称 80℃极限高温试验 45℃高温老化试验 ESD 硫渗透试验SP 实验方法 Ta=80℃；1000h；额定电流；实际散热片；平置； Ta=45℃；1000h；最大电流；散热片确保LED结温<110℃；平置； ESD HBM mode，±4KV，10次，LB引脚地，不接地，不驱动 将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75℃烤箱中储存8h 判断依据 delta flux≥85% delta x/y≤0.015 delta flux≥85% delta x/y≤0.015 灯条试验后能正常点亮 delta flux≥80% 数量 5*N (N：单台整机所用LB条数；) 5 备注 实验后无黄化等显性不良 4 10 6.2.4 创维 BLU产品的实验项目及判定标准： No. 1 2 3 4 5 6 7 测试项目 Test item 高温老化HTOL 高温存储HTS 低温老化LTOL 低温存储LTS 高温高湿老化WHTOL 温度冲击TS 静电人体模式 测试条件 Test condition Ta=65℃, Typical IF Ta=85℃ Ta=-40℃, Typical IF Ta=-40℃ Ta=85℃, 85%RH, Typical IF -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less than 20sec transfer time ESD HBM mode 测试时间 Test duration 500h 500h 500h 500h 179h 100cycle 判定标准 Criteria delta flux≥70% delta VF<10% IR<2倍初始值 不可有外观性不良 无死灯、缺亮 样品数Unit Failed/Tested 0/6 0/6 0/6 0/6 0/6 sequence from MSL 0/2 接 触 放电， 参考国 际 静电 协 会(ANSI)标 准 中电 压 等级：2 级 （2KV） 6.2.5 L项目的实验项目及判定标准： No. 1 测试项目 Test item 高温老化参考标准 Reference standard JESD22-A108 测试条件 Test condition Ts=55℃, Max IF 测试时间 Test duration 1000h 样品数Unit 判定标准 Failed/TesteCriteria d (non-COB) delta flux≥85% 0/20 2 3 4 5 6 HTOL 高温老化HTOL2 低温老化LTOL 高温高湿老化WHTOL 高温存储HTS 低温存储LTS JESD22-A108 JESD22-A108 JEITA ED-4701/102 JEITA ED-4701/201 JEITA ED-4701/201 JESD22-A106B Ts=85℃, Max IF Ta=-40℃, Max IF Ta=85℃, 85%RH, Max IF，30min ON/OFF Ta=100℃ Ta=-40℃ -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less than 20sec transfer time 1000h 1000h 500h 1000h 1000h delta x/y≤0.007 delta VF≤10% 0/20 0/20 0/20 0/20 0/20 7 温度冲击TS 300cycle 无死灯、缺亮 0/20

6.2.6 光引擎产品的实验项目及判定标准： No. 测试项目 Test item 高温老化HTOL 参考标准 Reference standard JESD22-A108 测试条件 Test condition Ts=85℃, 120Vac/230Vac驱动 Ts=85℃, 120Vac/230Vac驱动，2min ON/OFF Ts=105℃, 120Vac/230Vac驱动 Ta=60℃, 90%RH, 120Vac/230Vac驱动 -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less than 20sec transfer time Ta=100℃ 测试时间 Test duration 1000h 判定标准 Criteria delta flux≥90% delta x/y≤0.005 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 供参考 delta flux≥70% delta x/y≤0.03 无死灯、缺亮 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 供参考 供参考 供参考 样品数Unit Failed/Tested 0/3 1 2 3 4 ENERGY_STAR_IRapid-Cycle ntegral_LED_LStress Test amps_Program_快速循环压Requirements_力测试 V1.4 高温老化JESD22-A108 HTOL2 高温高湿老JEITA ED-化WHTOL 4701/102 温度冲击TS JESD22-A106B 1000h 0/5 1000h 1000h 0/3 0/3 5 100cycle 0/5 6 高温存储HTS 高温高湿存储TH 静电测试 浪涌测试 抗雷击测试 JEITA ED-4701/201 JEITA ED-4701/103 1000h 0/3 7 8 9 10 Ta=60℃, 90%RH 1000h 0/3 0/5 0/5 0/5 IEC61000-4-2 (GBT17626) 2KV （备注：Rapid-Cycle Stress Test 、HTOL2测试3000h供参考；）

6.2.7 RG高色域产品的实验项目及判定标准： No. 1 2 3 4 测试项目 Test item 高温老化HTOL 高温老化HTOL2 高温高湿老化WHTOL 潮气敏感度MSL 温度冲击TS 参考标准 Reference standard JESD22-A108 JESD22-A108 JEITA ED-4701/102 IPC/JEDEC J-STD-020 JESD22-A106B JEITA ED-4701/201 JEITA ED-4701/103 测试条件 Test condition Ts=85℃, Typical IF Ts=105℃, Typical IF 测试时间 Test duration 1000h 1000h 判定标准 Criteria delta flux≥70% delta x/y≤0.03 供参考 delta flux≥70% delta x/y≤0.03 无死灯、缺亮 样品数Unit Failed/Tested 0/10 0/10 0/10 0/20 sequence from MSL 0/10 0/10 0/20 5 Ta=85℃, 85%RH, 500h Typical IF 85℃/85%环境下吸湿12h以上贴片三遍回流焊 -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less 100cycle than 20sec transfer time Ta=100℃ Ta=60℃, 90%RH 1000h 1000h 无死灯、缺亮 delta flux≥70% delta x/y≤0.03 delta flux≥70% delta x/y≤0.03 供参考 6 7 8 高温存储HTS 高温高湿存储TH 静电放电人体模式ESD HBM 硫渗透试验SP 9 JESD22-A114 ESD HBM mode 2KV@85% for normal LED, 8KV@100% for LED with zener 将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 4h,8h,12h,…… 供参考 0/10

6.2.8 FLASH产品的实验项目及判定标准： No. 测试项目 Test item 高温老化HTOL 高温老化HTOL2 高温高湿老化WHTOL Pulsed operating life 潮气敏感度MSL1 潮气敏感度MSL 温度冲击TS 参考标准 Reference standard JESD22-A108 JESD22-A108 JEITA ED-4701/102 — 测试条件 Test condition 测试时间 Test duration 1000h 1000h 500h 30,000 cycles 判定标准 Criteria delta flux≥90% delta x/y≤0.005 供参考 delta flux≥70% delta x/y≤0.03 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 无死灯 无死灯、缺亮 （供参考） 无死灯、缺亮 样品数Unit Failed/Tested (non-COB) 0/10 0/10 0/10 0/20 1 2 3 4 Ts=85℃, Max IF Ts=105℃, Max IF Ta=85℃, 85%RH, Max IF Ta=25C,IF =Max IFP, T ON =400ms and T off=3600 ms 5 6 IPC/JEDEC J-STD-020 IPC/JEDEC J-STD-020 JESD22-A106B 7 85℃/85%环境下吸湿168h以上贴片三遍回流焊 85℃/85%环境下吸湿12h以上贴片三遍回流焊 -45℃ ∽ 125℃, 15min dwell, less 100cycle than 20sec transfer time Ta=100℃ 1000h 0/20 0/20 sequence from MSL 无死灯、缺亮 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 delta flux≥90% delta x/y≤0.005 供参考 8 高温存储HTS 高温高湿存储TH 静电放电人体模式ESD HBM 硫渗透试验SP 热阻测试TR JEITA ED-4701/201 JEITA ED-4701/103 0/10 9 Ta=60℃, 90%RH 1000h 0/10 10 11 12 JESD22-A114 ESD HBM mode 2KV@85% for normal LED, 8KV@100% for LED with zener 将1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 4h,8h,12h,…… JESD51-14 0/20 供参考 供参考 0/10 0/2

6.2.9 可靠性测试项目、判定标准不是一成不变的，应适应项目的实际情况，以

符合客户要求为第一准则。研发工程师、物料工程师、品质工程师可以根据项目的实际情况（如客户特殊要求，特殊的加速实验条件等），设计特殊的测试项目，也可以根据实际需要申请延长测试时间；

6.2.10 常规实验项目的作业方法参考《环境实验标准作业规范》、《老化样品制

样操作规范》；

6.2.11 硫渗透试验（SP, sulfur penetrate test）：将1g硫磺粉末置于400ml容器底

部，把LED放入容器内，LED与硫粉不接触，密闭容器，然后将整个容器放入75℃烤箱中储存，每4h测试一次或按照委托单特殊要求，当光通量维持率低于80%时，实验停止。应采取措施防止硫磺粉末、硫化试验箱污染其它老化烤箱。从容器中取出LED后应立即密闭容器。

6.3 新产品、衍生产品可靠性测试项目

（●代表必做，○代表选做）

6.3.1 新产品在设计总结评审完成，即设计完成后，应参考6.2或下表进行验证； 6.3.2 衍生产品是在新产品开发初期有经过全部信赖度验证，且所用物料也经过

正式评估导入的合格物料。如果衍生产品只涉及色温、亮度、显指等规格参数的变更，无需重复进行可靠性测试；如果变更支架厂商，芯片，荧光粉，封装胶水等物料，应参考下表进行验证； 新产品 更换芯片 更换支架 更换封装胶 更换固晶胶 更换金线 更换荧光粉 HTOL LTOL WHTOL ● ● ● ● ● ● ● ○ ○ ○ ○ ○ ● ● ● ● ● MSL ● ● ● ● ● ● ○ TS ● ● ● ● ● ● ○ HTS LTS TH ● ○ ○ ESD(HBM) ○ ○ SP ○ TR ○ ○ ○ ● ○ ○ ○ ○ ○ ○ ● ○ 备注1：●代表必做，○代表选做； 备注2：其中更换支架是指不变更整体结构，只是供应商的更换，或者支架工艺端的微小变更

等。

6.4 测试报告

6.4.1 所有可靠性试验的测试数据都需要被保留在服务器上的相应文件夹中。 6.4.2 可靠性工程师应该关注阶段性测试数据，如果阶段性数据有异常，可靠性

工程师应立即通知FA工程师分析，并及时将测试报告、分析结果反馈测试申请者。

6.4.3 当所有测试结束，可靠性工程师负责将结果总结成《可靠性测试报告》，

并以邮件分发相关人员。

6.4.4 如果新物料、新产品、衍生产品的可靠性测试NG，可靠性工程师应协同FA

工程师、研发工程师进行失效分析；可靠性测试NG的新物料、新产品、衍生产品不能被正常导入。

6.4.5 如果量产产品的可靠性测试NG，可靠性工程师应以“异常通知单”形式通

知品质工程师，并立即协同FA工程师、品质工程师进行失效分析；

6.4.6 品质工程师收到“异常通知单”后应按照品质事故处理流程，召集品质会

议，排查、hold相关库存，排查可能原因，并关注客户使用情况等。

7.0 记录：

可靠性试验的电子或纸本数据以及试验样品需要被保留至少3年，3年之后的电子试验数据可以被压缩存贮至有效的存储媒介。纸本数据和试验样品可以根据公司规定进行销毁或做其他处理。

8.0 参考文件：

《PF-008 新产品设计开发程序》 《PF-024 物料认可管制程序》 《SOP-030-26 物料认可SOP》

《SHINEON030-301-2013 环境试验标准作业规范》 《SHINEON030-313-2013 老化样品制样操作规范》

9.0 相关表单：

《QR-030-017 测试申请单》