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晶片封装体及其制造方法[发明专利]

2023-04-26 来源:客趣旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:晶片封装体及其制造方法专利类型:发明专利

发明人:李柏汉,郑家明,刘建宏申请号:CN201510098974.2申请日:20150306公开号:CN104900607A公开日:20150909

摘要:本发明提供一种晶片封装体及其制造方法。该晶片封装体包含半导体晶片、穿孔、绝缘层、重布局层以及封装层;半导体晶片具有电子元件以及导电垫,导电垫与电子元件电性连接且配置于半导体晶片的上表面;穿孔自半导体晶片的下表面朝上表面延伸并暴露出导电垫。绝缘层自下表面朝上表面延伸,部分绝缘层位于穿孔之中,其中绝缘层具有开口以暴露出导电垫;重布局层自下表面朝上表面延伸,部分重布局层位于穿孔之中,其中重布局层通过开口与导电垫电性连接;封装层自下表面朝上表面延伸,部分封装层位于穿孔之中。本发明能够显著地降低制作成本。

申请人:精材科技股份有限公司

地址:中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼

国籍:CN

代理机构:北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人:刘新宇

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