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检测晶圆缺陷的方法和系统

2020-04-12 来源:客趣旅游网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201810671007.4 (22)申请日 2018.06.26

(71)申请人 长江存储科技有限责任公司

地址 430205 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室

(10)申请公布号 CN108831844A

(43)申请公布日 2018.11.16

(72)发明人 张义东;曾最新;谢海波;梁玲 (74)专利代理机构 上海专利商标事务所有限公司

代理人 骆希聪

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

检测晶圆缺陷的方法和系统

(57)摘要

本发明提供了一种检测晶圆缺陷的方法,

其特征在于,包括以下步骤:获取待检测晶圆的至少一部分的红外热成像图;根据所述红外热成像图,识别所述待检测晶圆的缺陷。本发明提供了一种检测晶圆缺陷的方法和装置,通过获取待检测晶圆的红外热成像图,将待检测晶圆的能量信息转化为图像信息,识别待检测晶圆的缺陷,克服了人工目检的随机性,也无需昂贵的扫描机,提高了晶圆缺陷检测的准确性,降低了成

本。

法律状态

法律状态公告日

2018-11-16 2018-11-16 2018-11-16 2018-12-11 2018-12-11 2019-12-06

法律状态信息

公开 公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

法律状态

公开 公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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说明书

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