专利名称：晶体管芯片性能参数测试装置专利类型：实用新型专利发明人：姚剑锋
申请号：CN201120019098.7申请日：20110120公开号：CN202075378U公开日：20111214
摘要：本实用新型涉及一种晶体管芯片性能参数测试装置，该装置包括一台显微镜、一台晶体管性能标准测试仪和一个芯片测试平台，芯片测试平台包括一个与平台其它部件电绝缘的芯片台、在芯片台下方有一个传动机构和一个四连杆操作机构，在芯片台上方有两个探针，两个探针与芯片台分别用一条导线连接到晶体管性能标准测试仪的相应输入电极，以便测试芯片性能。本实用新型结构简单、故障率低，而且成本低。
申请人：佛山市蓝箭电子有限公司
地址：528000 广东省佛山市禅城区佛平路1号
国籍：CN
代理机构：北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
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