专利名称：一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法专利类型：发明专利发明人：俞华芬
申请号：CN202011101079.9申请日：20201015公开号：CN112505067A公开日：20210316
摘要：本发明公开了一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法。这种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法实现了使得在检测过程中不再需要进行镀膜层的去除处理，减少了不必要的步骤，节约了实施该方法的时间，同时消除了测试数据的固有误差，能够真实反映镀膜工序镀膜层的质量，便于对镀膜工序的镀膜加工质量进行监控，利于提高光伏玻璃产品的品质。
申请人：俞华芬
地址：201400 上海市奉贤区南桥镇解放东路科委大厦5楼501室
国籍：CN
代理机构：慈溪夏远创科知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：陈伯祥
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