专利名称：一种储层微观孔隙结构的表征系统专利类型：发明专利
发明人：朱如凯,李建明,金旭,王晓琦,孙亮,吴松涛申请号：CN201510450245.9申请日：20150728公开号：CN105136639A公开日：20151209
摘要：本申请提供一种储层微观孔隙结构的表征系统，以能够表征小于50纳米的储层微观孔隙结构。本申请所提供一种储层微观孔隙结构的表征系统包括：薄片制作装置，其用于制作储层薄片；电极封装装置，其用于利用所述储层薄片制作储层薄片电极；电化学沉积装置，其用于利用电化学沉积在所述储层薄片电极的储层薄片内部孔隙中沉积结晶物；获取装置，其用于去除所述沉积结晶物的储层薄片的岩石部分以获得所述结晶物；分析检测装置，其用于扫描所获得结晶物的形貌。通过本申请所提供的储层微观孔隙结构的表征系统，能够有效表征出小于50纳米的储层微观孔隙结构。
申请人：中国石油天然气股份有限公司
地址：100007 北京市东城区东直门北大街9号
国籍：CN
代理机构：北京三友知识产权代理有限公司
代理人：党晓林
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