（12）发明专利申请
（21）申请号 CN202010554812.6 （22）申请日 2020.06.17
（71）申请人 深圳市容微精密电子有限公司
地址 518000 广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区上围工业区2000069栋金倡达
（10）申请公布号 CN111537869A
（43）申请公布日 2020.08.14
F栋101
（72）发明人 刘泽鑫
（74）专利代理机构 深圳鸿业专利代理有限公司
代理人 朱海东
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
一种适用于大电流测试的探针测试底座
（57）摘要
本发明提供一种适用于大电流测试的探针
测试底座，涉及高铁及汽车电子芯片测试领域，该一种适用于大电流测试的探针测试底座，包括基板，基板的上端开设有放置槽，基板的表面开设有固定孔，基板的内壁设置有连接装置，连接装置包括包裹座，包裹座位于基板的内壁，包裹座的表面与基板的内壁固定连接，包裹座的上端插设并固定连接有导筒，导筒的下端固定连接有
连接杆，导筒的内壁固定连接有压缩弹簧，压缩弹簧的上端固定连接有导杆。在使用时，将基板与电路板电性连接，将被检测芯片插入放置槽中，检测芯片与导杆相抵，压缩弹簧受力变形产生弹力并扭曲，导杆受力插入导筒中，导杆在压缩弹簧的扭曲下产生偏移并与导筒的内壁相抵。
法律状态
法律状态公告日2020-08-14
法律状态信息
公开
法律状态
公开
权利要求说明书
一种适用于大电流测试的探针测试底座的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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